EN-1230A型分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于可用于Si DIODE、Si MOSFET、Si IGBT和SiC DIODE、SiC MOSFET、SiC IGBT的动态参数测试。系统的测试原理符合相应的、军标、系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。选件丰富，通过选件的灵活搭配组合实现相应的测试功能，PC为系统主控计算机，测试结果可输出为EXCEL
