SPM像扫描隧道显微技术SPM像扫描隧道显微技术（scanning tunnelling microscopy）一样，通过测量两者之间的电流，或者像原子力显微镜一样，通过测量两者间微小的作用力，来获取表面的结构图像。探针与材料表面的相互作用要受到基础物理学定律的约束，这会限制SPM可达到的分辨率，尽管如此，新型低噪声设备对表面原子的位移和键长变化的测量
