需要指出的是，复型技术在早期的透射电子显微分析中得到了广泛的应用，其主要原因在于：①透射电镜诞生初期，制备可使电子束透明的直接样品在技术上很难办到；②在扫描电镜诞生并获得广泛应用之前，高倍断口需通过制备复型样品在透射电镜中观察．制备直接样品的技术已日益成熟，同时扫描电镜及其分析技术的发展，大多数情况下用扫描电镜研究断口十分方便、有效．现场采样人员将样品交样品管理人员，并在《样品交接记录》上
