扫描电子显微镜的结构为透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度一定要确保在电子束可以穿透的尺寸范围内。因此就需要通过各种较为繁杂的样品制备手段把大尺寸样品转变到透射电镜能给接受的程度。 可不可以直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，成为科学家追求的目标。 通过努力，这种想法已成为现实——扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscopy，SEM)。
