辨率摄像来达成裸晶视觉检测要求,此应用需要更芯片讯号性能检测的需求,所以需要有更好具弹性的控制系统。在此过程中,必须采用运动控制结合配合机器视觉系统一起相辅相成达成芯片光学质量检测与封装工艺,藉以提高生产效率。芯片又