半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。也可称为终段测试FinalTest。在此之前，由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测ProbeTest。WLCSP此封装不同于传统的先切割晶圆，再组装测试
