原子发射光谱分析是根据原子所发射的光谱来测定物质的化学组分的。在正常的情况下，原子处于稳定状态，它的能量是低的，这种状态称为基态。但当原子受到能量(如热能、电能等)的作用时，原子由于与高速运动的气态粒子和电子相互碰撞而获得了能量，使原子中外层的电子从基态跃迁到更高的能级上，处在这种状态的原子称激发态。电子从基态跃迁至激发态所需的能量称为激发电位，当外加的能量足够大时，原子中的电子脱离原子核的束缚力，使原子成为离子，这种过程称为电离。
这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品X射线荧光分析的， 代号JSAC0651-55， 圆片状， 规格为4*40 mm;用于塑料样品X射线荧光分析的铅、镉、铬、， 代号JSAC0631-32， 圆片状， 规格为4*40mm;还有我国研制的RoHS检测X射线荧光分析用ABS中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081634-081638， 圆片状， 规格为4*40 mm;Ro HS检测X荧光分析用PVC中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 081121-081125， 圆片状， 规格为4*40 mm。
Compass500能量色散ROHS分析仪在无损、 现场ROHS筛选分析方法中， 具有不可取代的地位。 无论是从硬件方面还是软件方面， 特别是近几年， 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展， X射线光谱现场ROHS分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，能量色散X荧光光谱RoHS的分析仪，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
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