对于开关柜的设备状态、缺陷的运维检修以往多依靠巡视、试验和检测等技术的手段或方式，如传统的耐压试验绝缘性能检查、带电检测等。由于一般高压开关柜预防性试验周期较长，这就导致两次预防性试验时间间隔之间出现的绝缘缺陷很难及时被发现；而在带电检测方面，红外等非接触检测方法对于变压器等敞开式设备的检测效果较好，但对于有外壳屏
