目前世界出货量的型号吸收了的工艺科技例如OTS，QPU和TTG相关技术，这种全新的系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1：OTS-近的位置对正系统（光学目标对准） OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术，来源于东京精密的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。
搭配Probe card测试适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金）X，Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8～12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质：花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试
LCR测试仪是一种用于测试电感、电容和电阻等元件参数的仪器。它可以、准确地测量元件的电学性能，并提供多种测量模式和功能。LCR测试仪的好处是多方面的。首先，它具有和高稳定性，能够提供可靠的测试结果。其次，LCR测试仪操作简单，用户友好，即使对于非人士也易于使用。此外，它还具有测量速度和大量存储功能，宜春LCR测试仪，可以保存和导出测试数据，方便后续分析和比较。LCR测试仪还具有广泛的应用领域，LCR测试仪，可以在电子、通信、电力等领域中使用，满足不同需求。总的来说，LCR测试仪是一种非常好的仪器，可以提供、可靠的测试结果，并具有简单易用、测量、数据存储等优点。
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