Tektronix 371A|371a晶体管测试仪|现货泰克371a回收
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泰克）示波器：
TBS1062，TBS1102，TBS1152，DPO2024B
TDS3054C，TDS3052C，TDS3034C，TDS3032C，
TDS3014C，TDS3012C，TDS2014B，TDS2012B，
TDS2022,TDS3012,TDS3012B,TDS3014,TDS3044C
TDS2024B，TDS2022B，TDS2012C，TDS2014C，
TDS2022C，TDS2024C，TDS1012C，TDS5034B，..
TDS1012，TDS1012B，TDS2012，TDS1012B-SC，
TDS5054B，TDS5104B，TDS7404B，TDS7254B，
TDS7154B，TDS3052B，TDS3054，TDS3034，
TDS3054B，TDS3052，TDS3034B，TDS3032，
TDS3032B，TDS3014B，TDS2024，TDS5034C，
TDS3024B，TDS5054C，TDS7254C，TDS3064B，
TDS3044B，TDS3012B，DPO7354，DPO7254，
DPO7104，DPO7054，MSO4104，MSO4054，
MSO4032，MSO4034，DPO4054，MSO4014B，
DPO4102B-L，DPO4034B，DPO4102B，DPO4034，
MSO3054，DPO4104，DPO4014B，MSO4102B-L，
MSO4034B，DPO4054B，DPO4104B-L，MSO4102B，
MSO4104B-L，DPO4034B，MSO4054B，DPO4104B，
MSO4104B，DPO7354C，DPO7104C，DPO7054C，
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DPO3054，DPO3034，DPO2012B，MSO2024B，
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DPO3012，MSO3032，DPO2002B，MSO2004B，
MSO5204，MSO5104，MSO5034，DPO5034，
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MSO5054，DPO5054，DPO5204，mdo3014
TEK371A泰克晶体管测试仪|TEK371A
主要参数：·半导体器件测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包
括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通
过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅
、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）
（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉
冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置
到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 100nA/div1nA分辨率）至2A/div误差
，1.5%光标读出+0.05div设定值（点光标） 发射极电流- 测试量程： 1nA/div10pA分辨率）至2mA/div 误
差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1
