天线测试系统原理介绍天线测试系统原理介绍系统方案天线近场测试系统包括测试设备、天线转台、天线支架、扫描架、微波暗室等部分，通过上述部分的相互配合，决定了系统的测试能力、精度等性能参数，下面分别进行详细介绍。测试原理在离开待测体(DUT)3～10λ距离上，用一个电特性己知的探头在DUT近区某一平面或曲面上扫描抽样电磁场的幅度和相位数据，再经过严格的数学变换(FFT)计算出DUT的远区场的电特性，这一技术称之为近场测量技术，近场测量方法自上世纪七十年代以来主要用于天线测量(辐射问题测量)，天线测试，它在待测天线(AUT)的近区做数据采样，并可由得到的数据经过数学变换，得到天线的远场特性，如远场方向图等。对辐射近场测量而言，根据取样表面的不同，gsm天线测试方法，可分为平面扫描技术、柱面扫描技术和球面扫描技术。而平面近场测量技术是近场测量技术中研究早、应用多的测量方法，己被广泛用来测量天线的远场辐射特性。目前，近场天线测量的基本理论己基本成熟，其核心部分便是考虑探头影响(有探头补偿)时的近远场变换理论，即考虑探头影响(有探头补偿)时AUT与探头间的耦合方程以及由近场数据确定待测天线远场方向图的公式。关于藕合方程及其由近场数据确定待测天线远场方向图的公式的推导大体上有两种方法，一种是基于平面波散射矩阵的理论，smart三坐标雷达天线测试，另一种是基于互易定理。近场测量面选取应保证边缘处的电平低到可以忽略。这与测量系统的动态范围以及所要求的预计远场方向图的范围和精度有关。一般应使测量面截断处的场比中心部位的低30～40dB。图6为国外通用的计算探头扫描范围的示例图，其中参数D为大待测天线口径尺寸，P为探头大尺寸，Z为待测天线与探头之间的距离为（取3～10λ间），基站天线测试，Ф为大扫描夹角。上述参数的选取与系统测试精度，扫描架尺寸，被测天线口径等有关，需要综合考虑计算。 天线测试系统指标天线测试系统指标介绍主要指标介绍：天线近远场测试系统的主要指标如下所示：参数波段工作频率范围（GHz）1～40端口大输出功率①（dBm）4系统灵敏度①（dBm）-114系统动态范围①（dB）118增益测量不确定度(dB)±0.25(平面近场)±0.25(远场)-15dB副瓣电平不确定度(dB)±1平面近场)±1.5(远场)-25dB副瓣电平不确定度(dB)±2(平面近场)±2.5(远场)-35dB副瓣电平不确定度(dB)±3(平面近场)±3.5(远场)波束指向测量精度（度）≤波束宽度×1%（波束宽度≥2度）方向图显围(度)±180扫描架重复定位精度（mm）X/Y:0.03，Z:0.01扫描架平面度（mm）补偿前：0.05（RMS），补偿后：0.03（RMS）扫描有效行程（m）3*2*0.25转台重复定位精度（度）0.003测试天线大口径0.5m方向图坐标类型直角坐标、极坐标系统总线类型LAN注① ：系统仪器相关指标采用闭环方式从系统端口直接测试方法进行检验，不包括天线增益与空间损耗，天线增益不确定度去除0.5dB天线本身增益不确定度指标。 gsm天线测试方法_天线测试_骁仪科技(查看)由武汉骁仪科技有限公司提供。武汉骁仪科技有限公司（www.ceyear.com.cn）是湖北 武汉 ,科研仪器仪表的，多年来，公司贯彻执行科学管理、发展、诚实守信的方针，很大限度的满足客户需求。在骁仪科技领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创骁仪科技更加美好的未来。 产品：骁仪科技供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
