高产能 8" 检查及缺陷分析系统 - Leica DM8000 M
徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M外观
徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计，如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 OUV, 随检UV 选择 不但提高了分辨能力，同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。
该机照明 基于的 LED 科技 ，一体化整合在显微镜机身上。 低热辐射效应和一体化内置技术确保了显微镜四周空间具有 理想化的空气环流。 LED的超长使用寿命和低能耗特性大大降低了用户 今后的使用成本.。
只要一指按键 您就可以切换放大倍率, 照明模式或相衬模式。
为您带来的优势
视野扩大四倍以上
徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M视野面积
宏观放大功能 使您可以比传统扫描物镜多看四倍以上的视野。
极限分辨率
徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M超高分辨率
全新的倾斜紫外模式 OUV 在紫外光基础上结合了倾斜光设计理念，确保您可以从任何角度都得到可见物理光学的极限分辨率。
人机工程学设计
徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M人体工学设计
非常适合 长时间在显微镜上工作, 直观操作适应任何程度的使用者。
LED 照明
徕卡检查及缺陷分析系统DM8000M照明LED
内置一体化的 LED照明 达到了完美的空气环流. 长寿命和低能耗的LED特性同样为用户节省了大量成本。
