手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。 成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；具有零位、满度自校功能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！ 粉末量杯的基本尺寸：1、有 10mm， 6mm内经两种2、电压端子间距 固定 10mm3、电流下端子距离下部电压端子 10mm， 电流上端子是活动施压的部分，距离上部电压端子距离 10mm 6mm粉杯： 607.59毫升（-141.3毫升，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）10mm 粉杯：1687.75毫升（-392.5毫升，石墨电极测电阻率推荐，即建议至少留5mm的空间容纳电流电极）4、粉杯总高度： 86mm< H<107.55、粉末施压 10mm粉杯： P <3.5MPa 6mm 粉杯： P<10.4MPa注：以上为现有设计粉杯的基本参数，可以按用户要求定制整套测试夹具GCQS-37塑料薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37绝缘纸工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37绝缘材料工频介电常数及介质损耗测试仪GCQS-37电容器薄膜工频介电常数及介质损耗测试仪DDJ-100KV绝缘材料电压击穿试验仪NDH-A 微机控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪NDH-B 触摸屏控制绝缘材料耐电弧试验仪/高电压小电流测试仪GEST-121 绝缘材料体积表面电阻率测定仪NLD-A 高压漏电起痕试验仪NLD-B 耐痕化指数测定仪（漏电起痕试验机）GCSTD-A 高频介电常数及介质损耗测试仪GEST-122炭素材料电阻率测定仪GEST-123电线、电缆金属材料电阻率测试装置/导体电阻率测试仪GEST-124炭阳极用煅后石油焦粉末电阻率测试仪GEST-125半导电橡塑材料体积电阻率试验仪北京冠测试验仪器有限公司专注于材料电性能检测仪器试验方法的及应用，是集研发﹨生产﹨销售于一体的高科技企业.符合半导体材料电阻率的国际及测试方法。2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能） 方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）4、配置恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%； 整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。 测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。 石墨电极电阻率测试方法必看|北京冠测由北京冠测精电仪器设备有限公司提供。行路致远，砥砺前行。北京冠测精电仪器设备有限公司（www.guance17.cn）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为试验机较具影响力的企业，与您一起飞跃，共同成功! 产品：北京冠测供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
