光学薄膜化学成分分析技术，哪里可以做配方分析检测的。配方在哪检测。检测光学薄膜配方成分，光刻胶配方检测找中科溯源检测技术，精准剖析配方，为您模仿配制提供技术保障。
光学薄膜成分概述
光学膜是指一种光学介电材料，其由薄层介质组成，该薄层介质通过界面传播光束。 主要光学膜是反射膜，抗反射膜，滤光膜，滤色膜，抗反射膜，浓缩膜，扩散膜，偏振膜等。 根据应用，光学膜分为反射膜，抗反射膜，滤光膜，光学保护膜，偏振膜，光谱膜和相位膜。
偏光片的基本性能指标是：光学性能，耐久性，粘合性能，外观性能和其他特殊性能。 光学性能包括：三个主要性能指标：偏振，透光率和色调。 其他包括紫外保护和半透明，半透射偏振器的总反射率和漫反射率。
光学薄膜化学成分分析——中科溯源精准剖析
检测项目：光学薄膜化学成分分析
检测目的：为了研究配方，了解成分，模仿配制样品
检测仪器：红外、核磁、液质、气质、XRF等
检测周期：10个工作日（视分析项目而定）
检测样品：100—200克
中科溯源检测技术针对光学薄膜样品剖析配方，主要是通过是分离组分——红外——核磁——液相——气相——元素检测等一套鉴定方法来做的，分析的准确性基本能做到90%以上。另外光学薄膜化学成分的分析主要借助于表面分析技术。所谓表面分析技术通常就是用光子、电子或离子作为一次粒子轰击待分析的样品表面，来鉴定薄膜的化学成分，此方法主要是用于定性检测。
光学薄膜化学成分分析找中科溯源检测技术就对了。
