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主营产品:测试

[供应]半导体分立器件热特性测试仪

更新时间:2020/5/25 10:19:47
半导体分立器件热特性测试仪
型号:ST-Thermal_X 
名称:功率器件热特性测试系统
功能:用于 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性测试 
试验能力
&61656 功率循环 · 秒级 / Pcsec
&61656 功率循环 · 分钟级 / PCmin
&61656 被动循环 / TC
&61656 热阻(抗)/ Rth/Zth
&61656 K曲线 / Kcurve
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