一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，EFP算法 ?X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用1．一般要求? ?使用可靠的参考标准块校准仪器。的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。? ?参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。2．标准块的选择可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用? ?校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，测厚仪，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。
江苏一六仪器? 涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。单镀层：Zn， Ni，超声波测厚仪，Cr，Cu，Ag，Au，测厚仪，Sn等。双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等一、功能1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。2. ?镀层层数：多至 5 层。3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。4. 测量时间：通常 30 秒。5. 测量误差：通常小于 5%，电解测厚仪，视样品具体情况而定。6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。江苏一六仪器? ??X射线荧光镀层测厚仪? 元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）? ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?厚度分析范围：各种元素及有机物?? ? ?x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。? ? ?x射线荧光镀层测厚仪性能优势采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护minimum? φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求一次可同时分析多达五层镀层度适应范围为15℃至30℃镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）分析含量一般为2ppm到99.9% 超声波测厚仪-一六仪器(在线咨询)-测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。超声波测厚仪-一六仪器(在线咨询)-测厚仪是江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
