一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，EFP算法? X射线荧光镀层测厚仪?应用于电子元器件，光谱测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，测厚仪，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ ?深凹槽20mm以上镀层厚度分析仪使用注意事项1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）。3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。5．仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和易爆场合。8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005umX射线荧光镀层厚度分析仪基本原理X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，镀层膜厚仪，其核外电子都以其特有的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，光谱膜厚仪，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。江苏一六仪器? X射线荧光镀层测厚仪性能优势：? ?下照式设计：可以方便地定位对焦样品。? ?无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。? ?微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。? ?jie shou 器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。? ?EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析贵金属检测。 镀层膜厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）是从事“测厚仪,标准片”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
