一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，EFP算法 ?X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题XTU-A、XTU-50A：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于?0.2mm的产品?XTU-BL：主要针对线路板等大平面，但是需要测试?0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。?XTU-50B、XTU-4C：可测试小至?0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（XTU全系列都含有）能满足各种需求。
江苏一六仪器? 涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，衢州测厚仪，Sn等。双镀层：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，光谱膜厚仪，Au/Ag/Ni，光谱测厚仪，Sn/Cu/Brass，等等。三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等一、功能1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。2. ?镀层层数：多至 5 层。3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。4. 测量时间：通常 30 秒。5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，光谱分析仪，24种元素 厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪相关注意事项： 仪器供电电压必须与仪器上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。 本仪器为精密仪器，配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。 仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。 为避免短路，严禁仪器与液体直接接触，如果液体进入仪器，请立即关闭仪器。 本仪器不能用于酸性环境和易爆场合。 不要弄脏和刮擦调校标准片，否则会造成读数错误。 不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物，可以用不起毛的布轻轻擦拭。 光谱膜厚仪-江苏一六仪器有限公司-衢州测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。光谱膜厚仪-江苏一六仪器有限公司-衢州测厚仪是江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
