一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)? ?厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，镀层测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置，光谱测厚仪，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 测定部显示尽像的表示：X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器? ?X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列?技术参数X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管准直器φ 0.05 mm ?；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换近测距光斑扩散度：9%测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，膜厚测试仪，手动对焦放大倍数：光学38-46X，测厚仪，数字放大40-200倍随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um?其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、内部结构? ?X荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：1、X荧光发射和CCD观测是否同步和垂直？2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？3、X光照射面积从出口到样品的扩散情况。（二）、各种内部结构的优缺点? ?1、X荧光发射和CCD观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能保证定位精准，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时受样品曲面或者倾斜影响小。2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也兼顾好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦补偿射线的算法。3、X光照射面积从出口到样品的扩散过于严重会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会严重耗损X光的强度。因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。 镀层测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。镀层测厚仪-测厚仪-江苏一六仪器有限公司(查看)是江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
