光谱仪光谱干扰浅析在光谱仪进行分析工作中，充分发挥了计算机的数据处理能力来达到分析测试目的。而光谱仪分析中具有的一大难题：光谱干扰及背景校正，在做样品的检测中，PS等元素由于背景及谱线干扰严重。? ? ? ?光谱干扰是指:在做低含量或者痕量元素做定量分析时由于谱线弱，某些高含量元素或与分析元素波长相差很小的一些元素在此分析通道内产生辐射，这样在同一通道内干扰元素就会影响本通道的分析元素。? ? ? ?背景干扰是指分析样品中多原子状态物质对光源辐射所产生的散射，是光谱本底在本通道元素光强值上的附加。? ? ? ?在光谱上，对于分析线，因为样品中成分很复杂元素谱线之间可能互相重要了解该元素的灵敏线可能被干扰的情况，从谱线表中查出所有可能干扰的元素，光谱仪直读，在这些元素中，首先去掉那些在工作的光源条下? 根本不可能被激发的元素，或者由于样品的特点不可能存在于样品中的元素。? ? ? ?对其余可能干扰的元素，应逐个检查它们的灵敏线如果某元素的灵敏线没有在光谱中出现，则应认为样品中没有这个元素干扰，如果确有其灵敏线在光谱中出现，只能说分析元素谱上可能有该元素的谱线叠加在上面，在这种情况下，对于要检定的元素，还不能作肯定的判断。? ? ? ?另外，在遇到谱线干扰时，有时利用样品中元素的挥发性不同，也可以排除元素之间的谱线重叠干扰，当易挥发元素和难挥发元素的谱线互相重叠或干扰时，可采用分段曝光。? 碳硫分析仪分析过程中常见故障及处理（上）?故障1：板流不在正常范围（正常为200-600ma）。? ? ? ?故障原因及处理办法：板流小于200ma，说明样品称样量过少。燃烧功率低；非铁磁样品。可增加样品称样量，或增加助溶剂量。? ? ? ?故障2：释放曲线不正常。? ? ? ?故障原因及处理办法：? ? ? ?（1）峰形出现拖尾现象，说明样品称样量多、含量太高难释放、功率低。? ? ? ?（2）释放出双峰，直读光谱仪厂家，说明高含量样品称量过多。? ? ? ?（3）出峰时间大于20'，说明样品难熔、吹氧不足。? ? ? ?（4）释放时间大于50'，含量高、拖尾；坩埚空白大；分析流气量低。? ? ? ?说明：几种加速剂作用：增强分析体系感应效果（cu、sn）；降低样品材料熔点，熔融完全（fe）；碳、硫溶解度大有利碳硫释放（w、fe），有稀释作用，可提高样品材料熔点帮助释放完全。?为什么CMOS直读光谱仪能够同时兼具全谱特性和超低检出限，主要源于以下几点：?（1）高灵敏度：科研级CMOS由于近的高像元填充率而拥有用于高光谱成像系统的灵敏度优势，灵敏度好，应用于直读光谱仪，直读光谱仪价格，各常见金属分析检测元素元素检出限均可到0.01~10 ppm；?（2）光谱范围宽：CMOS光路结构使原来的一段连续光谱分成上下排列的两段光谱，直读光谱仪，有效的扩展面阵传感器接受光谱的范围，可以接收从深紫外区域到1000 nm的波长谱线，能够满足金属样品中各元素的分析；?（3）高阻抗：CMOS在电路设计上集成度更高，将A/D转换器集成于芯片内部，直接数字信号输出，大大降低了外围电路的复杂度，降低了整个电路的功耗；CMOS的APS量子效率比较高，由于采用了新的消噪技术，输出图形信号质量比以前有许多提高，读出噪声一般为14~100个电子。耗电小，背景小，噪音小，这些都大大提高了光谱仪分析低含量元素的重复性；?（4）数据传输速度快：从CMOS内部结构可以看出，CMOS的光电探测和输出放大器是在像素内部，因此它可以很灵活地将信号读出，而且CMOS光电传感器采集光信号的同时就可以取出电信号，还能同时处理各单元的图像信息，所以CMOS数据传输速度比CCD电荷耦合器快很多。（5）成本低：科研级CMOS也是面测量，可进行全谱扫描与分析，不需要像PMT那样一个通道必须配置一根管，成本较低； 科研级CMOS与光谱仪的结合，是与质量的结合，二者相得益彰，珠联璧合。、高性价比的CMOS直读光谱仪是时代进步的产物，是市场需求的产物，是直读光谱仪行业发展的必然趋势。 泰瑞达仪器(图)-直读光谱仪厂家-直读光谱仪由无锡泰瑞达仪器科技有限公司提供。无锡泰瑞达仪器科技有限公司（www.wxtrd.com）位于无锡市滨湖区梁溪路37号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前泰瑞达仪器在仪器仪表元器件及器材中享有良好的声誉。泰瑞达仪器取得商盟认证，我们的服务和管理水平也达到了一个新的高度。泰瑞达仪器全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。 产品：泰瑞达仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
