火花直读光谱仪中硫元素偏低的现象分析??分析原因? ? ? ?1.气的影响? ? ? ?气能够防止试样表面被氧化，提高背景与谱线的强度之比，稳定激发的质量。硫分析的稳定性，与气的流量，压力的稳定有关，同时也受到气纯度的影响。? ? ? ?气的影响分为三个方面：（1）气不纯；（2）气流量太小；（3）气的静态流量。? ? ? ?(1)气不纯时硫的强度有一定程度的波动，一般表现为无规律的偏低，标准化无法消除影响，这种影响很容易发现，一旦气不纯，激发表现为声音异常，听起来尖锐，另外激发点也不正常。当气严重不纯时激发点发白，轻度不纯时点的边缘有白花存在，因为气中有氧存在会再激发初期与金属原子结合而形成氧化层，干扰甚至破坏整个激发过程，使硫的强度受到不同程度的影响。消除这一影响的关键在于：保证气的纯度不99.995%，且管路的气密性良好。? ? ? ?(2)气流量和压力太小的影响。气流量和压力决定气对试样放电表面的冲击力，直读光谱仪，若气的流量和压力太小造成冲击力低，不足以将试样激发过程中产生的氧和氧化物冲洗掉，直读式光谱仪，而这些氧化物会凝聚在样品表面和电极上，抑制试样的继续蒸发，造成硫元素没有完全蒸发而后分析结果的偏低（这种现象对其他元素也适应）。气流量和压力使激发室内气不足，使激发质量不好或激发不完全，硫的强度表现为严重偏低甚至没有，只要增大气流量就可以解决，在正常分析前首要检查气的流量压力表，输出压力控制在2.2Mpa-2.5Mpa之间，流量在3.5L/min。? ? ? ?(3)气的静态流量影响。光谱仪在待机或一段时间内不分析时要保证一定的静态流量，静态的流量控制大约0.2~0.5L/min，光路内无静态或静态不足，会影响200nm以下的元素的光强值，S的光强值表现为偏低并伴随不稳定，随着时间的推移光强值不断升高。这种现象的处理办法很简单，多激发几次并等待时间30分钟以上。（这种现象也适用于C和P元素） 红外碳硫仪遇到漏气现象怎么用？（上）???????一．首先检漏：在分析界面上点“诊断”—“吹氧”，炉头压力表指示为0.08Mpa时，再次点“吹氧”取消“∨”，观察炉头压力表指针是否不动，如停在0.07Mpa左右不动或下降小于0.01Mpa/分钟，视为不漏气，否则漏气。? ? ? ?二．查漏方法：-----逐段检查法和动哪了先查哪的方法? ? ? ?1.如果近维护仪器动了气路管，那就先查看动过的地方，管子是否插好？密封圈是否老化变形？如是大漏，仔细听就能找到漏气之处。找到做相应的处理。? ? ? ?2.如不能直观查找到漏气点，那就将整个气路系统分为前后两大部分，分别判断：取下分析气小干燥管，用手按住下端口，检漏看压力表指针是否正常？? ? ? ?a.如不漏气，国产直读光谱仪，那就跟炉头前半部分没关系了，装上干燥管，逐段将后半部分的管子拔下，依次检漏，直到找到漏气部位，常见后半部分漏气多见于气室靠近光源端的几个接头和密封圈，做相应更换处理。（气室部分检漏可能将气室取出，光源及电路板均取下，先通上气再将气室浸入水中，观察漏气之处，直读光谱仪，注意一定要先通气，再浸水，完毕取出后应先将水擦干，整个过程保证气室内部不能进水。） 一般选在距离试样中心三分之二的圆周部位。如钢铁试样在模具中凝固以后会形成三个晶区即精细粒区、柱状晶区和等轴晶区。试样外层是精细粒区，该区域晶粒杂乱且区域较小（一般只有两三毫米）；试样中心区域是等轴晶区，就晶体本身来说较适合光谱分析，但是该区域多缩孔、砂眼、夹杂等缺陷；所以距离试样中心三分之二的圆周是的分析区域，该区域多为柱状晶，宏观偏析也较小，适合光谱分析。另外，铸态试样凝固时间越短越有利于分析，以避免偏析的出现。 泰瑞达仪器(图)-直读式光谱仪-直读光谱仪由无锡泰瑞达仪器科技有限公司提供。行路致远，砥砺前行。无锡泰瑞达仪器科技有限公司（www.wxtrd.com）致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，与您一起飞跃，共同成功! 产品：泰瑞达仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
