一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，EFP算法 ?X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题上照式：通常都有Z轴可移动，所以可对形状复杂的样品（如凹面内）做定位并且测试，一般可定位到2mm以内的深度，如Thick800A，另外有些厂商在此基础上配备了可变焦装置，搭配的算法，可定位到80mm以内的深度，如XDL237下照式：通常都没有Z轴可移动，光谱分析仪，所以不可对凹面等无法直接接触测试窗口的位置进行定位并测试，但操作简单，造价相对低；部分厂商或款式仪器搭载变焦装置也可测试复杂形状样品，同时也抬高了价格
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，EFP算法 ?X射线荧光镀层测厚仪应用于电子元器件，合肥测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用1．一般要求? ?使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。? ?参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，荧光测厚仪，否则必须进行补偿后再测。2．标准块的选择可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用? ?校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。江苏一六仪器? ? X射线荧光光谱测厚仪产品配置X光金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，镀层分析仪，信号检测电子电路。性能指标X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等X射线管：管电压50KV，管电流1mA可测元素：CI～U检测器：正比计数管样品观察：CCD摄像头测定软件：薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度 20mm 荧光测厚仪-一六仪器1-合肥测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。一六仪器——您可信赖的朋友，公司地址：江苏省昆山市玉山镇成功路168号，联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
