X荧光光谱仪定性分析的使用方法X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X荧光光谱仪能将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。? ? ? 手持式X荧光光谱仪用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，直读光谱仪，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。? ? ? 不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量，因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入，从而确定元素成份。? ? ??对于能量色散型光谱仪，可以由通道来判别能量，光谱仪直读，从而确定是何种元素及成份。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，仍需人工鉴别。首先识别出管靶材的特征x射线和强峰的伴随线，然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时，要同时考虑到样品的来源、性质等元素，以便综合判断。? 直读光谱仪使用中高低标的作用及如何选择高低标?在光谱分析中，为直接利用原始工作曲线，就需要定期用再校准样品对原分析曲线进行重新校准。当采用两点进行再校准时，所用两块再校准样品元素含量应有足够大的差异，并确保在元素分析范围的和低端。事实上低端再校准样经常就是采用“纯”基体样品，表示实际上只含有这种合金基体，其它元素成分含量应为零、痕量或很少，如校准铁基曲线时就用高纯铁样品作低点。从理论上讲，这样的两个样品足以使仪器再标准化。然而在实际工作中，为了保证仪器精度，一般不可能只用两块再校准样品就能全部涵盖所有待测元素的和低端，因此往往需要更多数量的样品用于再校准。另一方面，再校准程序能够用于一种以上的合金，原则上可用于一组合金，这时采用多点再校准就更为便捷、有效。 直读光谱仪是固体金属材料分析领域灵敏准确的检测器，直读光谱仪原理，可满足金属光谱分析各种复杂要求，可分析材质：Fe、Al、Cu、Ni、Co、Ti、Zn、Mg、Pb、Sn等基体。当金属被能量激发时，根据量子力学理论，式直读光谱仪，原子的壳层电子会被激发到较高能级的外层轨道上，处于不稳定状态。在一定条件下，它从高能级跃迁到低能级就会发出光子，发出特征谱线。各种元素都有不同的特征谱线，这些谱线经过光学系统进行分光，色散成按波长排序的一系列连续光谱，再经过光电转换元件把光信号直接转换为电信号。后计算机测量系统就可以通过计算某元素特征谱线的强度来确定元素的百分含量。 直读光谱仪-直读光谱仪原理-泰瑞达仪器(诚信商家)由无锡泰瑞达仪器科技有限公司提供。无锡泰瑞达仪器科技有限公司（www.wxtrd.com）在仪器仪表元器件及器材这一领域倾注了诸多的热忱和热情，泰瑞达仪器一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创。相关业务欢迎垂询，联系人：颜先生。 产品：泰瑞达仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
