江苏一六仪器? ?X荧光镀层测厚仪? 一六仪器、一liu!各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！1X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-标准75W(4-50kV，0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸2滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口3准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形，镀层分析仪，如4、6、8、12、20mil等-矩形，荧光测厚仪，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等4测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸小至为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸大至为:0.38x0.42mm(使用0.3mm准直器)5X射线探测系统封气正比计数器装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路6样品室CMI900CMI950-样品室结构开槽式样品室开闭式样品室-样品台尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY轴程控移动范围标准:152.4x177.8mm任选:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43.18mmXYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm-XYZ三轴控制方式多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
X射线测厚仪结构一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式? ?用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。①、Z轴的移动方式? ?根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。? ?手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。 ?一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 ? 厚度检出限:0.005um江苏一六仪器? ? ? ? X射线荧光测厚仪工作原理? ??? ? ?当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，光谱测厚仪，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的，根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。? ?根据色散方式不同，南平测厚仪，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。? ? 光谱测厚仪-江苏一六仪器-南平测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）是从事“测厚仪,标准片”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供高质量的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
