一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U)? ?厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，电镀测厚仪，24种元素 厚度检出限:0.005umX荧光测厚仪可调整测量位置，涂层测厚仪，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。 测定部显示尽像的表示：X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
? ? ? 江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪? ? ? X射线荧光测厚仪操作注意事项：测厚仪操作时候需要注意的：技术指标：1 分析元素范围：Cl（17）-U（92）2 同时可分析多达5层镀层以上3 分析厚度检出限高达0.01μm4 多次测量重复性高可达0.01μm5测量时间：5s-300s6 计数率：0-8000cps测厚仪操作流程打开仪器开关----在电脑上开启软件-------开高压钥匙-------联机------预热-----峰位校正------新建程式------选择相应的程式-----测试样品----出报告一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式? ?用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。①、Z轴的移动方式? ?根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），湖州测厚仪，一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。? ?手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。 ? 电镀测厚仪-湖州测厚仪-一六仪器有限公司(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。电镀测厚仪-湖州测厚仪-一六仪器有限公司(查看)是江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
