电子元器件二次筛选
电子元器件筛选和破坏性物理分析DPA是剔除早期失效元器件、及时发现假冒翻新元器件的有效手段。
电子元器件筛选是通过一系列短期环境应加速试验及测试技术，对整批电子元器件进行全批次非破坏性试验，挑选出具有特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收，提高产品使用可靠性。
元器件筛选的目的：
1.剔除早起失效产品。
2.提高产品批次使用的可靠性。
元器件筛选的特点：
1.筛选试验为非破坏性试验。
2.不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。
3.对批次产品进行*筛选。
4.筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。
二次筛选测试项目：
1.检查筛选：显微镜检查、红外线破坏检查、
X射线非破坏性检查。
2.密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示
踪检漏、湿度试验。
3.环境应?筛选：振动、冲击、离?加速度、温度
冲击、综合应力。
元器件筛选覆盖范围：
元件类：电阻、电容、电感、敏感元件、磁性元件、滤波器、晶体振荡器。
器件类：光电耦合器、二极管、晶体管、集成电路。
机电类：继电器、开关。
线缆类：连接器、电线电缆。
广电计量从1964年开始从事计量检定工作，是原信息产业部电子602计量站，历经五十余年的技术沉淀，持续变革，实现跨越式发展，成为一家性、综合化、军民融合的国有第三方计量检测机构，提供计量校准、产品检测及认证、分析评价、咨询培训、检测装备及软件系统研发等技术服务和产品，获得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“四证”等和工业众多权威机构的认可资质。
我们的设备能力：
1.老炼需要的设备：
集成电路高温动态老炼系统、混合集成电路高温动态老炼系统
电源模块高温老炼检测系统、分立器件综合老炼检测系统
*立器件间歇寿命试验系统、电容器高温老炼检测系统
继电器低电平寿命筛选系统、电容高温反偏老炼系统
二极管恒流老炼系统。
2.电测试需要的设备：
阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、半导体参数分析仪
图示仪、可编程电源、电子负载、示波器
频谱分析仪。
3.目检、外观检查需要设备：
光学显微镜、金相显微镜。
4.理化检测能力覆盖：
外观检测、内部无损检测、密封性测试、内部缺陷测试。
覆盖标准：
GJB128A-97半导体分立器件试验方法
GJB 360A-96电子及电气元件试验方法
GJB 548B-2005微电子器件试验方法和程序
GJB 7243-2011军电子元器件筛选技术要求
GJB 40247A-2006军电子元器件破坏性物理分析方法
QJ 10003—2008进口元器件筛选指南
MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法
MIL-STD-883G
依据各行业及领域客户的需求，广电计量精心打造出涵盖计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测、化学分析、食品农产品检测、环保检测、产品认证、技术咨询与培训、质检?业信息化系统开发、测控产品研发的一站式计量检测技术服务和产品，贯穿企业管控全过程。
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