5、感性负载5.1 有效电感 L 100 200 500 1000 μH；5.2 电流 Ic 1000 1000 1000 500 A；外部电感成阵列的内部连接。（外部电感的H值传给PC，以计算电流源的极限，大功率IGBT测试仪现货供应，限制脉宽到1000us）。6、标准的双控制极驱动6.1 门极电阻可人工预先设定如：2.5Ω，5Ω，10Ω等；6.2 开启（Trun-ON）输出电压 Vge+ ： +15V；6.3 关断（Trun-ON）输出电压 Vge- ： -15V；6.4 脉宽： 10 ~ 1000us （单脉冲、双脉冲总时间）；6.5 电压开关时间： < 50ns；6.6 输出内阻： < 0.5Ω； IGBT动态参数测试系统技术要求1、设备概述该设备用于功率半导体模块（IGBT、FRD、肖特基二极管等）的动态参数测试，大功率IGBT测试仪，以表征器件的动态特性，通过测试夹具的连接，大功率IGBT测试仪加工，实现模块的动态参数测试。2、需提供设备操作手册、维修手册、零部件清单、基础图、设备总图、部件装配图、电气原理图、全机润滑系统图、电气接线用、计算机控制程序软件及其他必要的技术文件，设备有通讯模块必须提供通讯协议及其他必要的技术文件，所有资料必须准备（正本、副本）各一份，电子版一份；6)防护：无较大灰尘，腐蚀或性气体，导电粉尘等空气污染的损害。（正本、副本）技术资料，应至少有一份采用中文，另一份技术资料可以是英文或中文。半导体元件除了本身功能要良好之外，其各项参数能否达到电路上的要求，必须定期测量，否则产品的质量特性很难保证，尤其是较大的功率元件，因具有耗损性，易老化及效率降低，因不平衡导致烧毁，甚至在使用中会发生。所以对新产品及使用中的元件参数的筛选及检查更为重要。 半导体元件的每一个参数，依其极性的不同，都须要一个的测量电路，我公司所设计生产的半导体元件自动测试系统，具有一组继电器形成的矩阵电路，依每个参数的定义，形成千变万化的电路，再依元件的出厂规格加上额定的电流或电压后，在极短的时间内将所须要的数据量测出来，且有些参数从量测的数据经运算即可得知其特性是否在规定范围内。测量目的：对模块的电压降参数进行检测,可判断模块是否处于正常状态。 大功率IGBT测试仪批发-华科智源-大功率IGBT测试仪由深圳市华科智源科技有限公司提供。“IGBT测试仪,功率器件测试仪,首件检测仪”选择深圳市华科智源科技有限公司，公司位于：深圳市宝安区西乡街道智汇中心B座606，多年来，华科智源坚持为客户提供好的服务，联系人：陈少龙。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。华科智源期待成为您的长期合作伙伴！当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。 产品：华科智源供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
