高低温湿热试验箱温度系统分为加湿和除湿两个子系统。加湿方式一般采用蒸汽加湿法,嘉兴高低温交变试验箱,即将低压蒸汽直接注入试验空间加湿。这种加湿方法加湿能力,速度快,加湿控制灵敏,尤其在降温时容易实现强制加湿。除湿方式有两种:机械制冷除湿和干燥除湿。机械制冷除湿的除湿原理是将空气冷却到温度以下,使大于饱和含湿量的水汽凝结析出,这样就降低了湿度。干燥器除湿是利用气泵将试验箱内的空气抽出,并将干燥的空气注入,同时将湿空气送入可循环利用的干燥进行干燥,可编程高低温交变试验箱,干燥完后又送入试验箱内,如此反复循环进行除湿。 对于液体介质法,GJB 360B—2009对试验设备的要求如下: ? ?① 应有两个液槽,一个用于低温,另一个用于高温。试验时,交变高低温试验箱价格,试验样品应能方便地浸入,并能迅速从一个槽转入另一个槽。在上述浸入与转换时,液体不应被搅动。 ? ?② 低温槽中的液体温度为? ? ?③ 高温槽中的液体温度为? ? ?④ 试验用的液体,应与试验样品生产使用的材料和保护层相适应,一般用水。在 GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命试验”,其试验目的是用于确定试验样品在高温条件下工作一段时间后,高温对试验样品的电气和机械性能的影响,从而对试验样品的质量做出评定。在 GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命(非工作)”和“高温寿命(非工作)(抽样方案)”两种试验,前者的试验的目的是用于确定器件在承受规定的高温条件下是否符合规定的失效率,后者的试验目的是用于确定器件在承受规定的条件下是否符合规定的抽样方案。电子元器件在高温环境中,高低温交变试验箱,其冷却条件恶化,散热困难,将使器件的电参数发生明显变化或绝缘性能下降。例如,在高温条件下,存在于半导体器件芯片表面及管壳内的杂质加速反应,促使沾污严重的产品加速退化。此外,高温条件对芯片的体内缺陷、硅氧化层和铝膜中的缺陷以及不良的装片、键合工艺等也有一定的检验效果。GJB 150《设备环境试验条件》是设备环境试验标准,它规定了统一的环境试验条件或等级,用以评价设备适应自然环境和诱发环境的能力,适用于设备研制、生产和交付各阶段,是制定有关设备标准和技术文件的基础和选用依据。 高低温交变试验箱-昆山科唯美特-嘉兴高低温交变试验箱由昆山科唯美特仪器设备有限公司提供。昆山科唯美特仪器设备有限公司在换热、制冷空调设备这一领域倾注了诸多的热忱和热情,科唯美特一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以、服务来赢得市场,衷心希望能与社会各界合作,共创成功,共创。相关业务欢迎垂询,联系人:李先生。 产品:科唯美特供货总量:不限产品价格:议定包装规格:不限物流说明:货运及物流交货说明:按订单