扫描电子显微镜的原理扫描电子显微镜(SEM)是介于透射电镜还有光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，能够直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要使用于各种材料的微观分析还有成分分析，天津环境场扫描电镜分析，已经成为材料科学、生命科学以及各生产部门控制中不可或缺的工具之一。 扫描电子显微镜的结构包含电子光学系统、图像显示与记录系统、真空系统还有X射线能谱分析系统。 扫描电镜和透射电镜设备的不同点： 高分辨率台式扫描电镜使用—组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子。 透射电镜是使用透射电子，收集透过样品的电子。因此，透射电镜提供了样品的内部结构，如晶体结构，形态和应力状态信息，而扫描电镜则提供了样品表面及其组成的信息。 而且，这两种设备的差别之一是它们可以达到的空间分辨率;扫描电镜的分辨率被限制在～0.5nm，而随着近在球差校正透射电镜中的发展，已经报道了其空间分辨率甚至小于50pm。描电镜和透射电镜对样品的要求 1、扫描电镜 扫描电镜制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度的薄层来说，造成的误差更大。 2、透射电镜 由于透射电镜得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，例如存储器器件的透射电镜样品一般只能有10～100nm的厚度，这给透射电镜制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高，一旦过度削磨则使该样品报废。透射电镜制样的另一个问题是观测点的定位，一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围，这在需要分析的时候，目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。 天津环境场扫描电镜分析-9d实验室样品测试由九鼎（天津）新材料科技有限公司提供。九鼎（天津）新材料科技有限公司是天津 天津市 ,其它的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在九鼎领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创九鼎更加美好的未来。 产品：九鼎供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
