采样的时间间隔 Δt 决定着采样的质量和数据处理的总时间。Δt 太小，会使x（nΔt）的数目剧增，增加了数据处理的工作量，并要求计算机的容量要大；但Δt 太大，会在原始数据中引起低频和高频分量的混淆，不能真实反映原信号x（t）的全部情况，影响分析的精度。LMS SCADSⅢ316每通道有独立的16bitA/D，有DSP 功能，采样频率为200Ks/s，通过SCSI 接口直接传送到硬盘。特别适合高速、大容量数据采集。
叶片固有频率测试分析已成为叶片检验程序中的环节之一。测试方法多采用频谱分析法，即给叶片一个初始位移(或力)激励，使其产生衰减振动，叶片裂纹故障检测，通过测量叶片的位移响应并对其进行频谱分析，即得到被测叶片的固有频率。测试设备主要包括位移传感器、数据采ji器和频谱分析软件。现有的测试系统没有充分考虑叶片频率测试分析的特殊性，不构成一个完整的测试分析系统。
用于检测涡轮机转子叶片裂纹的方法，其中，提供具有在转子基体上安装的叶片的 转子，其中为了检测裂纹还安装在转子基体上的叶片单个分开地时间上依次并且连续地被 激振，其中，在这种情况中为每个被激振的叶片记录形成的频谱，其中，从这些记录的频谱 中计算出平均值，并且其中，将记录的频谱和平均值进行比较，从而当叶片的频谱和平均值 的偏差为不允许时则可推断出该叶片有裂纹或者可能有裂纹。
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