c扫描原理主要应用范围· 晶元面处脱层 · 锡球、晶元、或填胶中之裂缝 · 晶元倾斜 · 各种可能之孔洞（晶元接合面、锡球、填胶…等） · 覆晶构装之分析 德国KSI声扫描显微镜C-SAM(SAT)世界的机器 WINSAM Vario III 声扫描显微镜 1～500MHz ● 非破坏性材料内部结构测试 ● 的超声波频率设置 ● 全新的操作软件简单易用 ● 紧凑的模块化设计 ● 广泛应用于半导体工业，材料测试，生命科学等领域 非破坏性失效分析： 视觉效果 定量分析 自动控制 －3D形貌再现 －同时观察多个层面 －显示样品的机械性能（硬度，密度，超声C扫描探伤报价，压力等） －实时超声波飞时图表（A-Scan） －纵向截面图像（B-Scan） －XY图像（C-Scan， D-Scan，超声C扫描探伤多少钱， 自动扫描， 多层扫描） －第二个监视器便于图像的观察和操作 －失效统计 －柱状图显示 －长度测量 －膜厚测量 －多方式图像处理 －超声波传输时间测量 －无损伤深度测量 －数字信号分析 －相位测量 －自动XYZ扫描 －自动存储仪器参数 －运用分层运算方法进行自动失效鉴别 －自动滤波参数设置 －换能器自动聚焦 －高分辨率下自动进行高速扫描 C扫描检测三维重建3D重建的目的是更好地实现检查的特殊要求，并便于观察缺陷空间形状和特定密度分量。三维成像研究可分为两类。一种是研究直接投影数据以进行三维重建，或称为真正的三维重建技术，这是指使用获得的二维投影数据来实现直接三维成像。另一个是堆叠多个2D CT图像以生成样品的3D图像，例如表面显示方法，超声C扫描探伤生产厂家，三角测量方法，超声C扫描探伤，Delaunay三角测量方法等，这些方法使用有限的层析成像数据来获得更接近实际的平滑物体表面。C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器 1、R型扫查器：(1)单轴手动编码器，使用方便。(2 )扫查架轻便小巧，探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度，实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器，进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(3)B-扫描和B-扫描可以提供C-扫描图像上任何位置正交两个断面的深度信息。相应的A-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能，可在生成的C-扫描图像上察看任意位置上的A-扫描波形。的检测方法，符合*新版的ASME规范要求。(5)定位定量准确。(6)B实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。 超声C扫描探伤报价-北京纳克无损(在线咨询)-超声C扫描探伤由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司拥有很好的服务与产品，不断地受到新老用户及人士的肯定和信任。我们公司是商盟认证会员，点击页面的商盟客服图标，可以直接与我们客服人员对话，愿我们今后的合作愉快！ 产品：北京纳克无损供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
