半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，半导体薄膜哪里有，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，半导体薄膜联系方式，以及行业应用技术开发。对样品粉末粒度的要求对于衍射仪（以及聚焦照相法），实验时试样实际上是不动的。即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些可以通过360目（38μm）粉末颗粒都不能符合要求。对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。 例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能达到1％，颗粒大小若在10μm以内，则误差在2～3％左右。但是若样品本身已处于微晶状态，则为了能制得平滑粉末样面，样品粉末能通过300目便足够了。 对于不同吸收性质的粉末，颗粒度可以认为“足够细”的尺寸要求是各不相同的，因为样品受到X射线照射的有效体积和可以忽视样品中微吸收效应的颗粒上限都取决于样品的吸收性质。Brindley对此作过详细的分析，他在衍射分析中对粉末的颗粒度按μD值进行分级（μ为物质的线吸收系数，D为晶体的平均直径）。 细 颗 粒： μD < 0.01 中等颗粒：0.01 < μD < 0.1 粗 颗 粒： 0.1 < μD < 1 十 分 粗： μD > 1欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~ 半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，半导体薄膜哪家好，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。XRD可以用于定量分析哪些内容？A. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 X 射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系，即谢乐公式（Scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。对于对于负载型催化剂表面的金属颗粒，其颗粒大小 d（单位 nm）与其分散度 D 之间可以简单地换算：d ≈ 0.9/D (注：0.9这个常数是经验值) 。B. 样品的相对结晶度：一般将衍射峰积分所得的面积（As）当作计算结晶度的指标，与标准物质积分所得面积(Ag)进行比较，结晶度=As/Ag*。C. 物相含量的定量分析：主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全谱精修定量等。其中，RIR法的基本原理为1:1混合的某物质与刚玉(Al2O3)，其衍射峰的积分强度会有一个比值，该比值为RIR值。通过将该物质的积分强度/RIR 值总是可以换算成Al2O3的积分强度。对于一个混合物而言，物质中所有组分都按这种方法进行换算，后可以通过法得到某一特定组分的百分含量。D. XRD还可以用于点阵常数的精密计算，残余应力计算等? 欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。技术参数1、能量分辨率及灵敏度：l XPS能量分辨率≤0.5 eV，UPS能量分辨率≤120 meVl XPS灵敏度≥4，000，安徽半导体薄膜，000 cps，UPS灵敏度≥2，200，000 cps；2、电子能量分析器：l 能量扫描范围5 eV - 3000 eV，小能量步长3 meVl 通过能为1 eV - 400 eV，连续可调3、X射线光源：l Al Ka单色化光源（hu = 1486.6 eV），聚焦可获得小束斑≤10 μml 束斑面积从10 μm至400μm聚焦连续可调，步长不超过5 μml X射线光源大功率150 W4、紫外光源：l He紫外光源（He I：21.2 eV，He II：40.8 eV）l He II工作时，He II / He I强度比高于1/25、电子/离子中和源：l 带有同源双束中和，同时具备电子和离子中和能力l 满足绝缘样品UPS分析时的荷电中和6、离子：l 能量范围：≥4000 eVl 大束流：4 μAl 离子能量3 keV，束流3.5 μA时束斑不大于500 μml 束斑可调，自动对中7、角分辨XPS：l 角分辨XPS角度分辨优于1°8、样品台：l 测试样品厚度≤20 mml 带有束斑孔径、刀刃边、荧光物质、银和金的标准样品台，用于系统标定 欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~ 半导体薄膜联系方式-安徽半导体薄膜-半导体XRD薄膜测试由广东省科学院半导体研究所提供。半导体薄膜联系方式-安徽半导体薄膜-半导体XRD薄膜测试是广东省科学院半导体研究所今年新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：王小姐。 产品：半导体研究所供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
