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[供应]半导体XRD检测机构-XRD倒易空间(RSM)电话

更新时间:2022/9/30 10:04:14
半导体XRD检测机构-XRD倒易空间(RSM)电话




半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,XRD倒易空间(RSM)选哪家,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。我想知道不同衍射角对应的晶面,怎么办?  如果你的图能够找到对应的粉末衍射数据卡,XRD倒易空间(RSM)哪里有,那么问题就简单了。多数的粉末衍射数据卡上面都给出了各衍射线的衍射指标,也就可以知道对应的晶面了。  如果是未知晶体结构的图,就需要求解各衍射线的衍射指标,这一步工作叫做'衍射图的指标化'。如自己解决需要具备基础的晶体学知识,然后学会一两个指标化的工具软件(如treaor90)进行尝试。欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~ 半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。什么是标准半峰宽度,黑龙江XRD倒易空间(RSM),如何得到?  所谓的标准半峰宽应该是指仪器本身的宽化因子,和实验时使用的狭缝条件关系,想得到它并不难。  比如在相同的测量条件下,把 Si 标样放到仪器上测量 Si 的各个衍射峰的 Kα1 峰的半高宽,就是所谓的标准了。当你需要测量一系列非标样 Si 粉时,就把标样 Si 的 Kα1 峰的半宽作为标准半峰宽使用就可以了。  但,有很多时候合适的标准物质很难得到,你就用另外的标准物质(出峰位置很相近的标准物质)代替,也完全没有问题。也可以根据 Si 标样在整个扫描范围内的衍射峰的 Kα1峰的半高宽作出仪器宽化因子-2θ关系曲线来得到任意进度的仪器宽化因子。因为谢乐方程的适用条件也就是几十到 200nm 之间,超出这个范围误差是很大的。只要你在进行相同的一系列计算时使用相同的一个参数就一般就可以满足研究工作的要求了。 欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。技术参数1、能量分辨率及灵敏度:l XPS能量分辨率≤0.5 eV,UPS能量分辨率≤120 meVl XPS灵敏度≥4,000,000 cps,UPS灵敏度≥2,200,000 cps;2、电子能量分析器:l 能量扫描范围5 eV - 3000 eV,小能量步长3 meVl 通过能为1 eV - 400 eV,连续可调3、X射线光源:l Al Ka单色化光源(hu = 1486.6 eV),聚焦可获得小束斑≤10 μml 束斑面积从10 μm至400μm聚焦连续可调,XRD倒易空间(RSM)电话,步长不超过5 μml X射线光源大功率150 W4、紫外光源:l He紫外光源(He I:21.2 eV,He II:40.8 eV)l He II工作时,He II / He I强度比高于1/25、电子/离子中和源:l 带有同源双束中和,同时具备电子和离子中和能力l 满足绝缘样品UPS分析时的荷电中和6、离子:l 能量范围:≥4000 eVl 大束流:4 μAl 离子能量3 keV,束流3.5 μA时束斑不大于500 μml 束斑可调,自动对中7、角分辨XPS:l 角分辨XPS角度分辨优于1°8、样品台:l 测试样品厚度≤20 mml 带有束斑孔径、刀刃边、荧光物质、银和金的标准样品台,用于系统标定 欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~  半导体XRD检测机构-XRD倒易空间(RSM)电话由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所为客户提供“结构性能测试,光电性能测试,性能形貌测试”等业务,公司拥有“半导体”等,专注于技术合作等行业。,在广州市天河区长兴路363号的名声不错。欢迎来电垂询,联系人:王小姐。 产品:半导体研究所供货总量:不限产品价格:议定包装规格:不限物流说明:货运及物流交货说明:按订单
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