X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种、准确而又经济的多元素分析方法。
主要使用X射线束激发荧光辐射，ESI，次是在1928年由尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以分析从轻元素的钠（z=11）到铀，而波长分散式则为从轻元素的硼到铀。
元素分析范围：S16-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷硅检测器SDD，可升级Fast SDD多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C
>标准配置>可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样
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