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受激发的样品中的每一种元素会出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量或者波长。
分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）
样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护
检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪）X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪）。
考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。 [1] X射线荧光的物理原理编辑 语音当材料暴露在短波长光检查，或伽马射线，EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质出的辐射，这是原子的能量特性。
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