纳米铜粉成分的分析方法——X射线光电子能谱技术XPS
XPS是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。元素的定性分析和定量分析。固体表面分析。在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有
球形超细铜粉
纳米铜粉成分的分析方法——X射线光电子能谱技术XPS
XPS是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。主要测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。元素的定性分析和定量分析。固体表面分析。在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。
超细铜粉粉体粒度分布的含义说明
D50：也称中位粒径，是指累积分布百分数达到50%时对应的粒径值。这是一个表示粒度大小的典型值，该值准确地将总体划分为二等份，也就是说有50%的颗粒粒径超过此值，有50%的颗粒粒径此值。如果一个样品的D50=5μm，说明在组成该样品的所有粒径的颗粒中，粒径大于5μm的颗粒占50%，小于5μm的颗粒也占50%。D50常用来表示粉体的平均粒度。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎来电咨询。
超细铜粉是如何在花岗岩小锯片中运用的
用质量好的超细铜粉作为主材料的胎体，应该具有良好的致密性，SEM下关于金刚石颗粒的包裹性较强，不易呈现零落等问题，强度和性都应处于较高的位置。受材料的质量的影响，比方杂质含量，氧含量，粒径散布不平均等。
在混料，烧结后，终废品锯片的质量会呈现良莠不齐的现象。
如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询。
（作者： 来源：）
