江苏一六仪器 X射线荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
测厚仪
光谱膜厚仪
江苏一六仪器 X射线荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
测厚仪
测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲下涡流测厚仪原理如下：
1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。为使测量更加准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为终的测量结果。
2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪研发生产厂 一六仪器一liu 可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,欢迎来电咨询!
率的jie shou qi：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
激光测厚仪的技术指标介绍
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。对于我们要使用到测厚仪的厂家来说，测厚仪能否适用于我们的产品是非常重要的，那么X射线测厚仪主要应用在哪些方面。
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
zui da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
一、操作注意事项
1. 如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大；
2. 如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差 范围内；
3. 仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值；
4. 为使测量更加准确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为 终的测量结果；
5. 显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，才可以 进行下次测量。
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