光电探测器的分类
按照光电探测器件的空间分辨率也可分为两类：一类是成像器件，另一类是非成像器件。
1、成像器件
利用光电探测器，构成图像传感器，对可见光或者红外光谱进行测量，形成光学图像以供处理。主要有CCD和CMOS，广义上，眼睛也属于这类探测器。
2、非成像器件
所有除成像器件以外的光电探测器件均可称为非成像器件，各种热探测器和大部分光子探测器
光电探测器价格
光电探测器的分类
按照光电探测器件的空间分辨率也可分为两类：一类是成像器件，另一类是非成像器件。
1、成像器件
利用光电探测器，构成图像传感器，对可见光或者红外光谱进行测量，形成光学图像以供处理。主要有CCD和CMOS，广义上，眼睛也属于这类探测器。
2、非成像器件
所有除成像器件以外的光电探测器件均可称为非成像器件，各种热探测器和大部分光子探测器均属于这一类。
光电探测器原理简介
光电探测器是指由辐射引起被照射材料电导率改变的一种物理现象。光电探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等;在红外波段主要用于红外热成像、红外遥感等方面。
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红外光电探测器的发展
20世纪，红外光电探测器首先受到军事部门的关注，它实现了黑暗中的目标探测、保密通讯等。
的红外光电探测器采用点源探测技术，该方法将目标看作一个热点源，以此来探测、锁定并目标。光电探测器光电探测器是将光脉冲转换成电信号的元器件，在LiDAR系统中充当“眼睛”的角色，是关键的传感器。由于获得的特征信息量十分有限，且非常容易受到各类红外、激光等干扰，因此单元探测基本不具备目标识别的能力。随着计算机技术、光电子技术等发展，光电对抗越来越强烈，简单的点源式探测技术面临重大挑战，逐渐发展为多元探测技术，可以获取较丰富的目标信息。
20世纪80年代研发的多元红外光电探测器面阵凝视成像系统探测元数量达到103～106量级，可以直接置于红外物镜的焦平面上，实现所谓的大角度“凝视”，电子脉冲代替了光学机械扫描体制。光电探测技术发展概况光电探测技术是根据被探测对象辐射或反射的光波的特征来探测和识别对象的一种技术，这种技术本身就赋予光电技术在军事应用中的四大优点，即看得更清、打得更准、反应更快和生存能力更强。系统灵敏度可提高两个量级且可同时处理多个目标，体积缩小、重量减轻、响应更快、可靠性提高，在军事上有更突出的适用性。
目前，红外光电探测器正朝着中波红外、长波红外双波段甚至多波段方向发展。红外光电探测器将具备像素更高、帧速率更快、热分辨率更强、多色化和智能化等特征。
光电探测器噪声分类
1、噪声：由于光电探测器在光辐射作用或热激发下，光电子或载流子随机产生造成的。存在于真空发射管和半导体器件中，属于白噪声。
2、热噪声：暗电流大小与偏压、温度及反向饱和电流密切相关。它就好比光电系统的“眼睛”，对外来的光信号进行测量，并转换为电信号用于后续的信号处理。PN结外加正向偏压，暗电流随外加电压增大成指数急剧增大，远大于光电流，因此加正偏压无意义。PN结外加反向偏压，暗电流随反向偏压增大有所增大，*后等于反向饱和电流，其值远小于光电流。
3、产生-复合噪声：半导体中载流子产生与复合的随机性而引起的载流子浓度的起伏。与噪声本质相同，都是由于载流子随机起伏所致，所以有时将该噪声归并为噪声。不是白噪声，低频限噪声。是光电探测器的主要噪声源。
4、1/f噪声：（又称电流噪声、闪烁噪声或过剩噪声），低频噪声，几乎所有探测器都存在。探测器表面工艺状态对该噪声影响很大。频谱近似与频率成反比。主要出现在1kHz以下的低频区，工作频率大于1kHz时，与其他噪声相比可忽略。
5、倍增噪声：光电倍增管
6、雪崩噪声：雪崩光电二极管
7、温度噪声：热探测器本身吸收和传导等热交换引起的温度起伏。
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