能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。
荧光测厚仪
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线的发生与特征当用高能电子束照耀样品时，人射高能电子被样品中的电子减速，这种带电拉子的负的加快度会发生宽带的延续X射线谱，简称为延续潜或韧致辐射。
另一方面，化学元素遭到高能光子或粒子的照耀，如内层电子被激起，则当外层电子跃迁时，就会出特征X射线。
能量色散X射线是一种别离的不延续谱.假如激起光源为x射线，则受激发生的x射线称为二次X射线或X射线荧光。特征X射线显示了特征能量色散X射线荧光光谱仪发生的进程。
当人射x射线撞击原子中的电子时，如光子能量大于原子中的电子约束能，电子就会被击出。这一互相效果进程被称为光电效应，被打出的电子称为光电子。经过研讨光电子或光电效应可以取得关于原子构造和成键形态的信息。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。它以PLC和工心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。
(1)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时，选择的基体的表面也必须是luo露的、光滑的。
镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪----一六仪器
X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中,测量的空间大X射线途经的环境就比较大,当温度高时,测量值减小,当温度低时,测量值则增加。
第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度。比如,在轧制生产中,测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物,这都会对X射线测厚仪的测量值造成影响,出现误差。X射线荧光分析仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。另外,被测量的物体,可能会上下跳动,偏离测量时的位置,这种倾斜也会影响测量的精度。
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