一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：
由于对塑胶产品上涂层的测量，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反
镀层测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
用转移法测量塑胶产品上涂层时注意事项：
由于对塑胶产品上涂层的测量，如使用超声波发测量时，经常因涂层与基材发生相溶而没有较好的声波反射面，从而导致测量失败或读值严重偏差。X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。如使用切锲法，也多有使用不方便和读数困难的地方。所以目前便携式电子产品生产厂普遍使用转移法测量塑胶产品上涂层，先在产品上盖若干小条标准厚度的聚酯薄膜，再用纸基美纹胶压住两头，留出中间部分。将该产品放入喷涂线上正常喷涂、烘烤。
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
1．一般要求
使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
2．标准块的选择
可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。的技术，的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用
校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。
如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求一次可同时分析多达五层镀层度适应范围为15℃至30℃镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）分析含量一般为2ppm到99。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。
的技术，的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。
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