一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范
光谱分析仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
镀层厚度分析仪使用注意事项
1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。
2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（UPS）。
3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。
5．仪器曝晒在阳光下时温度极易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。
6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。
7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。
8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。
9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
XTU-A、XTU-50A：五金产品、紧固件、汽车配件、卫浴等，测量面积大于0.2mm的产品
XTU-BL：主要针对线路板等大平面，但是需要测试0.1mm以下，且求购仪器预算较低的客户。
XTU-50B、XTU-4C：可测试小至0.05mm测量面积，且搭载的精密移动平台和变焦镜头（XTU全系列都含有）能满足各种需求。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
江苏一六仪器 能量色散X射线荧光光谱测厚仪
X射线的产生利用X射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。江苏一六仪器X荧光光谱测厚仪下照式设计：可以方便地定位对焦样品。从设计上分为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种X射线管，都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。
X射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。
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