RoHS分析仪的分析原理
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的
rohs卤素分析仪公司
RoHS分析仪的分析原理
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特点信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=kE式中，E为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特点信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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RoHS检测仪类型介绍
GY-MARS/T 5700B型 X荧光光谱仪是GY-MARS/T5700的升级型，具有很高的性价比。可满足欧盟的RoHS标准、的电子产品污染管理办法、无卤测试等相关指令的测试要求。该产品可应用于进出口检验检疫、电子、塑胶、玩具制造等众多领域。该产品可应用于技监局、进出口检疫、电子、塑胶、玩具等众多行业。
仪器采用了电制冷硅半导体探测器，分辨率为149eV。能更好地检测被测物中的各种元素。出口产品会受到国外相应的法律法规限制，如：欧盟的RoHS指令。6mm2的探测面积，具有很好的点对点测量能力，避免交叉干扰等影响测量结果的因素。配合来自美国的第五代I型数字信号处理器，分析速度和系统处理能力得到显著提高，计数率可达200万，测试稳定性和准确性比以往提高了2倍。
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RoHS检测仪特点
以下内容由北京京国艺科技发展有限公司为您提供，希望对同行业的朋友有所帮助。
1. 无损测量，操作简单，即学即会。
2. 样品不需前期处理，直接上机检测即可。
3. 没有污染，安全可靠。
4. 分辨率好、峰本比大，对微含量敏感，检出限低。
5. 全金属机箱，内衬铅屏蔽。工作时，周边辐射检测几乎和天然本底一致。
6. 采用水冷技术，确保光管散热，大大延长了光管使用寿命。
7. 仪器取得环保局豁免管理，用户不需再去环保局办理《辐射安全许可证》，省时省力。
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