相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
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1、厂家货源正i品
日本原装。
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按照出厂产品资料有说明。
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rets-100设备
相位差光学材料量
产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，展现任一个波长的相位差量测。
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偏光计测模组是用CCD camera的1shot来获取多角度的偏光强度pattern，因与以往的偏光计测装置相比，其无偏光子回旋机构，故其可维持其的测定及稳定的性能。用基准Sample实施设备，偏光prism unit的角度校正和基准Sample自身的Retardation测量。此外，反射用偏光子的角度校正可同时进行。
本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCD camera构成的偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，相对角、RE的装置。
本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。
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