MikroTest涂层测厚仪使用过程中注意事项
推动指轮时，不要触动按钮； 尽量保证测量点与两支撑点在同一平面上； 在粗糙表面测量时，读数将偏大。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。要多次测量求取平均值； 测量柱体或圆形边缘时，一定要利用仪器测嘴的V型口； 测量含碳量高或经过热
菲希尔测厚仪
MikroTest涂层测厚仪使用过程中注意事项
推动指轮时，不要触动按钮； 尽量保证测量点与两支撑点在同一平面上； 在粗糙表面测量时，读数将偏大。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。要多次测量求取平均值； 测量柱体或圆形边缘时，一定要利用仪器测嘴的V型口； 测量含碳量高或经过热处理后的硬质钢上涂层时，测值会偏大； 基体厚度小于临界厚度时，测值会偏大； 在凸凹测量会对测值有影响，在凸面时测值偏大、凹面时测值偏小；
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行无损的膜厚检查。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
MC-2010A型涂（镀）层测厚仪
MC-2010A型涂（镀）层测厚仪采用单片机技术，测量精度高、数字显示、操作简单方便、触摸按键、内置探头全量程测量、体积小、重量轻; 强大的抗干扰能力，求值更稳定；且具有低电压指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已达到当代国际同类仪器的水平。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。
MC-2010A型涂镀层测厚仪应用范围：本仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。切勿猛烈碰撞测厚仪使用完后指轮一定要反时针旋转到二分之一刻度以上的位置再放置在存放点。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
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