一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、
荧光测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
镀层厚度分析仪根据测量原理一般有以下五种类型:
1.磁性测厚法
适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢、铁、银、镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法
适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法
目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法
此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层。一般精度也不高。测量起来较其他几种麻烦。
5.测厚法
此种仪器价格昂贵，适用于一些特殊场合。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
能量色散X射线荧光光谱仪广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
光谱分析仪可以说是检测仪器中的“超能先生”，在生物、能源环境、食品安全等领域都能看到它的身影。44M软驱，40G硬盘，CD-ROM，鼠标，键盘，17寸彩显，56K调制解调器。以食品检测为例，常买粮食的朋友应该都知道，零食的包装上有一个营养成分表，用来向消费者展示食品中的热量、脂肪、蛋白质、碳水化合物、钠等主要营养成分的含量，而这些数据的获得就离不开光谱分析仪。仪器通过对物品材料发散近红外线，活跃材料中的分子，通过分子振动反射的光纤，根据光线的光学特征识别，由此确认材料的化学成分组成。
我们身边的仪器远不止此，或许正如动画中超人也有自己办不到的事，科学仪器功能也有限，但相对的，仪器都有各自发光发热的领域。不同的仪器在不同的领域各司其职，守护人类健康，为人类发展出力。
工业时代的科技是现代科技，科技是国之利器，要强大、人民生活要不断改善，必须依托于强大科技。科学仪器在我国科技发展中起到的重要作用是不容忽视的，希望未来能够看到更多拔萃的科学仪器为我国科技发展做出贡献。
江苏一六仪器有限公司 镀层测厚检测 欢迎来电详询！
X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光光谱测厚仪原理
一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。数据报告：对测量的数据结果进行对比和分析，判断数据是否正常，若出现异常可进行多次测量排除偶然误差14。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。002um~100um左右，能测试5层以上膜厚，并且可以测量合金镀层，也可分析镀层元素和含量比。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。
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