头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高i精度绝i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量
OPTM设备
头部集成了薄膜厚度测量所需功能
通过显微光谱法测量高
i精度绝
i对反射率（多层膜厚度，光学常数）
1点1秒高速测量
显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）
区域传感器的安全机制
易于分析向导，初学者也能够进行光学常数分析
独立测量头对应各种inline客制化需求
支持各种自定义
测量项目：
绝
i对反射率测量
多层膜解析
光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
膜厚测试仪调校步骤：选择要调校的产品程式；选择菜单“调校---调校”开始进行“调校”屏幕左下角的指令窗口会出现,按“确定”结束调校。
膜厚仪如何系统校准
校准的方法、种类，这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了，用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是：在校准铁基时
1好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
膜厚仪在电气安全方面按照要求正常使用仪器，就不会对人造成任何危险或损害。膜厚仪包含传导线电压的元件，它是按照准则的安全条款设计的。必须遵循仪器安全条款和准则有关仪器操作的规定！ 电源连接为避免损坏仪器,供电电压必须与膜厚仪铭牌上的电压一致。仪器必须使用三相插头连到一个已接地的插座上。
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