UV-PLUS专利光学系统是纯净的，同时具有杰出的长期稳定性。专利系统在120-180nm波段透光效率，运行成本很低。
的光学系统设计与UV-PLUS概念相结合，能够同时以高达9pm的光谱分辨率记录120-800nm波段的全部一级光谱图。这一核心技术奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基础。
火花台：火花台内部体积进一步缩小，优化气流向设计使得
二手光谱仪回收
UV-PLUS专利光学系统是纯净的，同时具有杰出的长期稳定性。专利系统在120-180nm波段透光效率，运行成本很低。
的光学系统设计与UV-PLUS概念相结合，能够同时以高达9pm的光谱分辨率记录120-800nm波段的全部一级光谱图。这一核心技术奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基础。
火花台：火花台内部体积进一步缩小，优化气流向设计使得气消耗更低，同时有效移除残留粉尘。尾气经两级过滤系统排出。火花台工作维护量极低。压杆可以左右移动，接驳安全电路。可以更换样品。
适用分析大尺寸异型样品。特殊设计的样品夹可用于分析棒材、线材和薄片。小样品分析程序提高了 分析精度和准确性。
基于用户的分析需求，仪器可以定制成十种标准基体的任意组合。
德国斯派克分析仪器公司SPECTRO全新研发的垂直同步双观测（DSOI）技术为提升ICP-OES的灵敏度提供了一种全新的解决方案。采用该技术解决了等离子体观测的核心问题，灵敏度是传统垂直观测等离子体仪器的数倍，性能价格比优异。
SPECTRO的垂直同步双观测（DSOI）方式，使用两个光学接口捕获来自垂直等离子体的发射光，使得微弱信号的检测能力大幅提升，同时又允许高浓度、重基体进样。进一步降低了记忆效应和污染风险。DSOI技术将传统垂直观测系统的灵敏度提高了数倍，避免了垂直双观测结构的复杂缺点和降低了用户使用成本。 次数用完API KEY 超过次数限制
近年来，因使用劣质润滑油会导致停了工或重大事故的案例比比皆是，由此造成了巨大的人力财力损失。所幸的是，现在可以通过经常性的再用油监测和分析发现导致严重事故的因素。对某些设备来说，润滑油质量的偏差甚至可能酿成灾难性的后果。因此，为防患于未然，润滑油的检测是至关重要的。
德国斯派克分析仪器公司的ICP等离子体发射光谱仪和X荧光光谱仪可以提供美的分析方案，解决上述问题。
德国斯派克ICP等离子体发射光谱仪和X荧光光谱仪可同时检测油品中的痕量元素、磨损金属、添加剂和氯，分析元素涵盖润滑油行业所要求的P,S,Ca,Zn,Mg,Ba,Mo,Si,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Ni,Cu,Ag,Sn,Pb,Na,Al,K,B等21个元素，总共可分析73种元素 ，而且分析方法符合ASTM D4951，ASTM D5185及GB/T17476公认的检测方法 。 次数用完API KEY 超过次数限制
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