一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
光谱测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示：X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。
X射线荧光光谱仪特点
1、一种真正意义上 的无损分析，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。
2、分析速度快，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。
3、自动化程度高。
4、可以同时测定样品中的多种元素。
5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。
6、样品的形态广。
7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。
8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光光谱测厚仪原理
一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。经典模型认为物质的表面并不是一个抽象的几何概念，而是由刚性球的原子（分子）紧密排列而成，是实际存在的一个物理概念。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。
它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。
江苏一六仪器 能量色散X射线荧光光谱测厚仪
X射线的产生利用X射线管(图2)，施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。从设计上分为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种X射线管，都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。
X射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。
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