大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
近红外光谱技术（NIR）是 90 年代以来发展快、引人注目的分析技术之一。
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MCPD光谱仪对比
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
近红外光谱技术（NIR）是 90 年代以来发展快、引人注目的分析技术之一。
近红外光谱技术（NIR）是 90 年代以来发展快、引人注目的分析技术之一。随着 NIR 分析方法的深入应用和发展，已逐渐得到大众的普遍接受和官1方的认可。其构造由一个入射狭缝，一ge色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。 1978年美国和加大就采用近红外法作为分析小麦蛋白质的标准方法， 1998 年美国材料试验学会制订了近红外光谱测定多元醇（聚亚安酯原材料）中羟值含量的ASTM D6342 标准方法。2003年，在我国也正式实施了近红外光谱方法测定饲料中水分、粗蛋白质、粗纤维、粗脂肪、赖氨酸、蛋氨酸的 GB/T 188682002
利用设备对led相对光谱的功率分布、色容差、峰值波长、光通量、光效等光色电参数进行组合式综合测试。通常指光谱分析仪设备。
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。[1] 是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解和核酸的作用机理。
MK350[1] LED光谱仪用于检测LED光源的CCT(相关色温)、CRI(显色指数)、LUX(照度)、λP(主峰波长)，能够显示相对功率光谱分布图、CIE 1931 x,y 色品坐标图、CIE1976 u',v'坐标图。近红外光谱仪的优势样品一般不需要预处理且操作简单由于近红外光谱吸收强度弱，允许样品有更大的测量厚度，它可以使光线深入到样品中，样品不用特别均匀，不需要使用化学试剂或高温、高压、大电流等测试条件，分析后不会产生化学、生物或电磁污染。应用于LED相关产业的生产、研发、品保、检测及销售。
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