一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-
光谱分析仪
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
三、操作步骤
4. 判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校 准；
5. 测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当 测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。
6. 仪器关机
一六仪器 一liu！各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎咨询联系！
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。
(4) 在系统校准时没有选择合适的基体。基体较面为7mm，较小厚度为0.2mm，此临界条件测量是不可靠的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
应用领域：
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
江苏一六仪器以“竭尽全力创造客户认可的有价值的产品和服务”为使命，持续进行产品与服务。
继续秉承“专注测厚仪，一六仪器，一 liu ”的原则，坚持自主、合作共赢。
一家、受人尊敬的公司。
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X射线测厚仪测量精度的影响因素
X射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中,随着使用时间的增加,灯管的曲线会发生变化,在同一电压下,随着使用灯管时间的递加,厚度偏差会越来越大,因此,X射线源的衰减,是影响测量精度的一个主要原因。除了正常使用过程中X射线源会出现衰减,在出现某些故障是,也会发生突发性的衰减,出现标准化通过不过,反馈的电压与工厂现场标准电压相差巨大,发生这种情况,X射线测厚仪的测量精度肯定是不准确的。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
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